为了让广大光电学子能更深入了解专业发展方向,规划职业生涯,强化课程所学知识,我们将于5月17日前往远方光电实验室参观。借此机会,我们也将了解到一家高新科技型企业的企业文化、成功原因以及科研环境。
杭州远方光电信息股份有限公司是光电检测设备和校准服务的专业供应商,在LED和照明检测设备领域内综合实力全球领先。近期,远方光电被联合国教科文组织列为“2015国际光年”开放实验室,远方检测校准中心将作为国内唯一一家具有美国NVLAP以及中国CNAS双重权威认证的国际广度校准实验室,全力负责中国地区“实验室开放日”专题活动的开展。我们将从实验室主楼开始参观,在这里,我们将近距离接触积分球、光谱仪、小型分布光度仪、LED老化及寿命测试仪、光辐射安全测试系统,了解它们的工作原理,这对我们光电检测、应用光学、光电子学等课程的深化认识以及应用有极大帮助。走出主楼,工作人员会带我们观看一座应用于工业生产的大型空间分布光度仪,详细介绍它的工作原理,这将会是十分震撼的。接着我们将前往电磁兼容(EMC)实验室,在这里,我们将了解电子设备的电磁辐射以及抗干扰能力的检验方法和设施以及环境要求,对于电磁波的感悟将更上一层楼。
我们真诚的希望通过这次参观活动,光电学子将对自身专业以及未来规划有更深的感悟。
远方光电实验室参观活动定于5月17日举办,欢迎大家报名。报名请发送 《 姓名+学号+手机号码 》至邮箱:optvisit@163.com。如有疑问可咨询杨同学:18868101380。后续信息我们将陆续通知,届时也会一起前往参观。
附:
杭州远方光电信息股份有限公司简介:
杭州远方光电信息股份有限公司是光电(光学、电学、光电子学)检测设备和校准服务专业供应商,远方光电在LED和照明检测设备领域内综合实力全球领先。公司坐落于被誉为“天堂硅谷”的杭州滨江国家高新技术开发区,是国家火炬计划重点高新技术企业,国内首家CIE正式官方会员企业, ISO9001国际认证通过企业,国家“双软”认证通过企业,拥有美国NVLAP认可实验室和中国CNAS认可实验室。2013年和2014年连续两年被福布斯评为中国最具潜力上市公司100强。
远方公司多次承担国家高技术研究发展计划(863计划)课题和省市级重大科技攻关项目。拥有中、美、德发明专利30余项,中国实用新型专利70余项。远方公司的多项高科技产品获得“中国专利优秀奖”、“首批国家自主创新产品”、“国家重点新产品”等荣誉称号。远方公司还积极参与国际标准化活动,主导或参与了30多项国际、国内标准或技术规范的制修订。
远方公司产品大量销往美国、欧洲、日本、韩国、台湾等发达地区,被万余家企业和政府质检机构采用,产品出口和国内市场占有率均遥遥领先。客户包括中国计量院(NIM)、联合国开发计划署(UNDP)、美国国家标准技术研究院(NIST)、台湾工业研究院(ITRI)、SGS、ITS、TUV、DEKRA、CTI等国际高水平检测实验室和CREE、PHILIPS、GE、OSRAM、SAMSUNG等国际著名企业。
远方光电科学研究院是杭州远方光电信息股份有限公司进行全力打造,具备世界一流水平的光电检测技术和科学研究机构。秉着“一切源于创新”的理念,着眼于前沿技术和未来产品的研发,引领行业发展方向,为公司不断探索新的增长区域和可持续发展提供核心支撑。
研究院总面积40000m2,总投资约1亿元人民币。院内建有国际先进的光学和电学标准实验室,以及全球LED检测示范性实验室。研究院拥有一支200多人的科学家和工程师科研团队,汇集了来自国内外顶尖的技术人才。中国工程院院士李同保任研究院名誉院长兼首席顾问,由远方光电董事长任研究院首席科学家。
研究院总面积40000m2,总投资约1亿元人民币。院内建有国际先进的光学和电学标准实验室,以及全球LED检测示范性实验室。研究院拥有一支200多人的科学家和工程师科研团队,汇集了来自国内外顶尖的技术人才。中国工程院院士李同保任研究院名誉院长兼首席顾问,由远方光电董事长任研究院首席科学家。
潘建根教授简介:
潘建根,教授级高工,杭州远方光电信息股份有限公司董事长兼光电研究所所长,国际照明委员会(CIE)TC2-74光辐射源的空间光谱辐射测量技术委员会主席,全国照明标委会光辐射测量标准化分委会(SAC/TC224/SC3)副主任委员兼秘书长,国家863计划半导体照明工程总体专家组成员。自1985年开始至今,一直从事光学、颜色、电子和EMC等光电测试技术研究和仪器设备设计工作,曾任教于永利集团88304官网并担任光度色度学主讲教师、永利集团88304官网博士研究生校外导师、浙江工业大学研究生导师。
近年来,潘建根教授及其所领导的科研团队特别专注于半导体照明测试技术和标准化的研究,他主持了多项国家863计划项目和各级政府科技攻关题,设计专利80余项,发表论文50余篇,主持或参与起草了二十余项国际和国内半导体照明和光辐射测量领域的标准。2008年潘建根教授担任美国NIST客座研究员,2009年获CIE特别贡献奖,2010年获得国家发明专利优秀奖,同年并被评为全国优秀科技工作者。